7. März 2025 | Neuigkeiten & Bekanntmachungen:
Markteinführung zweier Rasterelektronenmikroskop-Modelle „SUPERSCAN SS-4000“
Das erste Produkt der gemeinsamen Marke mit TESCAN „Shimadzu by TESCAN“
Produktfoto: Rasterelektronenmikroskop „SUPERSCAN SS-4000“
- * Das Foto enthält Optionen.
Die Shimadzu Corporation hat in Japan zwei Modelle des Rasterelektronenmikroskops „SUPERSCAN SS-4000“ auf den Markt gebracht. Nach Abschluss einer Geschäftspartnerschaft mit der TESCAN GROUP, einem führenden Hersteller von Rasterelektronenmikroskopen (im Folgenden „REM“) aus Tschechien, ist dies die erste Produkteinführung der gemeinsamen Marke „Shimadzu by TESCAN“. Die Serie ist für die Beobachtung bei niedriger Beschleunigung und niedrigem Vakuum optimiert, wodurch die Probenvorbereitung deutlich reduziert wird. Das Gerät bietet Anwendern von REMs Lösungen für Bedienungsprobleme wie verzerrungsfreie Großflächenbeobachtung und automatische Strahljustierung in Echtzeit. Shimadzu stellt Software und Handbücher in japanischer Sprache bereit und bietet umfassenden Support von der Installation über Inspektion und Reparatur bis hin zu weiteren Kundendienstleistungen.
Rasterelektronenmikroskope (REM) ermöglichen die Beobachtung von Oberflächen im Nanobereich und sind unverzichtbare Instrumente für die Forschung in Wissenschaft und Technik. Das Prinzip beruht darauf, eine Probe mit einem Elektronenstrahl zu bestrahlen und die dabei entstehenden Sekundär- und Rückstreuelektronen zu detektieren, um Unterschiede in Oberflächenmorphologie und -zusammensetzung zu erkennen. Daher ist die Untersuchung leicht aufladbarer (nichtleitender) Proben schwierig. Das SUPERSCAN SS-4000 ermöglicht jedoch die Beobachtung bei niedrigen Beschleunigungen, wodurch die Aufladung reduziert wird. So lassen sich Bilder mit optimaler Auflösung und optimalem Kontrast auch für nichtleitende Proben wie Keramik und Kunststoffe aufnehmen. Abweichungen in Bildhelligkeit, Fokus und Beobachtungszentrum, die durch Änderungen der Strahlcharakteristik aufgrund von Spannungs- und Stromänderungen während der Probenbeobachtung entstehen, werden automatisch korrigiert. Dies trägt zu einer höheren Arbeitseffizienz bei. Diese Serie ist skalierbar und unterstützt rund 20 Analyseoptionen, wie z. B. Elementanalyse, Elektronenrückstreubeugung, Verbindungsanalyse und Speziationsanalyse. Dank der zugehörigen Software „Essense“ wird eine hohe Bedienbarkeit erreicht. Die Shimadzu Corporation wird über die gemeinsame Marke „Shimadzu by TESCAN“ mit TESCAN hochwertige Lösungen für verschiedene Forschungs- und Entwicklungsbereiche anbieten.
Merkmale
1. Beobachtung mit ultrahoher Auflösung mithilfe der BrightBeam-Technologie
Durch den Einsatz eines optischen Systems mit der proprietären BrightBeam-Technologie, die eine hohe Strahlkonvergenz unter niedrigen Beschleunigungsbedingungen ermöglicht, lassen sich feinste Details nichtleitender und strahlempfindlicher Materialien ohne Probenvorbehandlung beobachten. Der Analyseablauf wird zudem durch In-Flight-Beam-Tracing vereinfacht, das Abweichungen in Bildhelligkeit und Fokus aufgrund von Spannungs- und Stromänderungen automatisch durch softwaregesteuerte Regelung des optischen Systems ausgleicht.
2. Klare Bilder bei niedrigem Vakuum
Für die Untersuchung nichtleitender Proben sind Niedrigvakuumbedingungen erforderlich, um elektrostatische Aufladung zu vermeiden. Dieses Produkt unterstützt Niedrigvakuum im Bereich von 7 bis 500 Pa. Herkömmliche Rasterelektronenmikroskope (REM) verwenden Stickstoffgas im Niedrigvakuum. Dieses Produkt verfügt jedoch über ein einzigartiges Detektionssystem mit Wasserdampfatmosphäre und hoher Signalverstärkung und eignet sich daher ideal für die hochempfindliche Untersuchung biologischer Proben im Niedrigvakuum.
3. Zahlreiche Analyseoptionen und hohe Bedienbarkeit
Es werden rund 20 Analysemethoden unterstützt, darunter Elementanalyse, Elektronenrückstreubeugung, Verbindungsanalyse und Speziesanalyse. Das integrierte System mit der speziellen Software „ESSENCE“ für die Elementanalyse etc. gewährleistet zudem eine hohe Benutzerfreundlichkeit.
- * BrightBeam, In Flight Beam Tracing und ESSENCE sind eingetragene Marken der TESCAN GROUP.
- * Teile der Funktionen 2 und 3 sind nur für das Modell mit großer Stichprobe verfügbar.