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SPM-9700HT Plus (Haupteinheit)

Am 14. Januar bringt die Shimadzu Corporation das Rasterkraftmikroskop SPM-9700HT Plus in Japan und international auf den Markt. Dieses Modell liefert lokale Informationen zu physikalischen Eigenschaften in einem Zehntel der Zeit bisheriger Shimadzu-Modelle. Als universelles Rasterkraftmikroskop (SPM) mit hoher Bedienbarkeit und Effizienz leistet es einen wichtigen Beitrag zur Bewertung und Erforschung von Nanomaterialien.

In einem Rasterkraftmikroskop (SPM) wird eine Sonde mit einer Spitze von etwa 10 nm Durchmesser nahe an eine Probe herangeführt. Dabei wird ein Scan durchgeführt, während die Stärke der mechanischen und elektromagnetischen Wechselwirkungen zwischen Probe und Sonde gemessen wird. So lassen sich Informationen über die dreidimensionale Form der Probenoberfläche und ihre physikalischen Eigenschaften gewinnen. Solche Geräte werden auch als Rasterkraftmikroskope (AFM) bezeichnet. Im Gegensatz zu Elektronenmikroskopen, die mit einem Elektronenstrahl arbeiten, müssen Beobachtungen im Vakuum durchgeführt werden. Ein SPM hingegen kann Beobachtungen und Messungen in Luft oder Flüssigkeiten durchführen. Rasterkraftmikroskope sind ein unverzichtbares Werkzeug für die Nanotechnologie und Nanowissenschaft und werden in Anwendungen zur Formbeobachtung und Bewertung der physikalischen Eigenschaften von Polymeren, Batteriematerialien und biologischen Proben eingesetzt.

Dank verbesserter Signalverarbeitungsgeschwindigkeiten und optimierter Steuerungsmethoden erfasst dieses Produkt Bilder physikalischer Eigenschaften in deutlich kürzerer Zeit. Die Erstellung von Abbildungen der Messergebnisse physikalischer Eigenschaften, die mit Vorgängermodellen etwa 6 Stunden dauerte, ist mit der optional erhältlichen Software Nano 3D Mapping Fast in 30 Minuten oder weniger möglich. Die Software verfügt zudem über NanoAssist, eine Funktion, die durch die automatische Einstellung der Beobachtungsbedingungen für stabile Bildgebung sorgt. Weitere Mechanismen zur Steigerung der Bedienbarkeit sind ein Kopfschiebemechanismus für den schnellen Probenwechsel und CantileverMaster (optional erhältlich), der die Befestigung der Verbrauchssonde vereinfacht.

Mit diesem Produkt unterstützt Shimadzu eine Revolution in der Nanotechnologie und Nanowissenschaft. Durch die Verkürzung von Messzeiten und die Steigerung der Arbeitseffizienz trägt Shimadzu zum Fortschritt der Forschung in den Schlüsselbereichen Gesundheitswesen und Gentechnik bei.

Merkmale

1. Messungen in einem Zehntel der Zeit

Nano 3D Mapping Fast (optional erhältlich), eine spezielle Software zur Messung des lokalen Elastizitätsmoduls, der Adsorptionskapazität und weiterer physikalischer Eigenschaften sowie deren bildlicher Darstellung, ermöglicht Hochgeschwindigkeitsmessungen – zehnmal schneller als mit früheren Shimadzu-Modellen. Das Steuerungssystem und die Antriebseinheit wurden optimiert, wodurch sich die Arbeitszeit um ein Zehntel reduzierte, ohne die Leistung zu beeinträchtigen. Dies trägt zu einer effizienteren Forschung und Entwicklung bei.

2. Automatische Einstellung der Beobachtungsparameter

Die Software verfügt über NanoAssist, eine Funktion, die die Beobachtungsbedingungen (Parameter) automatisch einstellt. Geben Sie einfach den Beobachtungsbereich an, und die Software passt die Bedingungen an. Selbst Anwender ohne Vorkenntnisse können so stabile Bilder erhalten.

3. Die Benutzerfreundlichkeit unseres meistverkauften Modells, des SPM-9700HT, wird beibehalten.

Dieses Modell ist mit den beliebten Funktionen unseres Vorgängermodells SPM-9700HT ausgestattet: CantileverMaster ermöglicht den einfachen und zuverlässigen Austausch von Verbrauchsmaterialien, und der Kopfschiebemechanismus sorgt dafür, dass nach der einmaligen Einstellung keine Nachjustierung nach jedem Probenwechsel erforderlich ist. Somit setzt dieses Modell die bewährte Benutzerfreundlichkeit unserer Vorgängermodelle fort.

SPM-9700HT Plus (mit Steuereinheit und PC)

Weitere Details finden Sie unter
SPM-9700HT Plus