28. März 2025 | Neuigkeiten & Hinweise:
Ein neues Instrument zur quanteninfrarotspektroskopischen Analyse von Proben mit rauer Oberflächenstruktur
Ergebnisse gemeinsamer Forschung mit der Universität Kyoto wurden in der international anerkannten Fachzeitschrift Physical Review Applied veröffentlicht.
Einer Forschungsgruppe der Graduiertenschule für Ingenieurwissenschaften der Universität Kyoto und der Shimadzu Corporation ist es gelungen, Proben mit rauer Oberfläche gegen eine Prismenoberfläche zu pressen und sie so mittels Totalreflexions-Quanteninfrarotspektroskopie zu analysieren. Diese Technik ermöglicht die einfache und unkomplizierte Analyse verschiedenster Proben, darunter auch solcher mit rauer Oberflächenstruktur, die bisher Schwierigkeiten bereitet haben. Dies dürfte zur Entwicklung kompakter Quanteninfrarotspektrometer für ein breites Anwendungsspektrum führen, beispielsweise für die Umweltüberwachung im Freien und Sicherheitsanwendungen. Die Ergebnisse dieser Forschung wurden am 28. Januar 2025 online in der international anerkannten US-amerikanischen Fachzeitschrift Physical Review Applied veröffentlicht.
Künstlerische Darstellung der Totalreflexions-Quanteninfrarotspektroskopie
Informationen zum veröffentlichten Artikel
| Titel | ： | Quanten-Infrarot-Abgeschwächte-Totalreflexions-Spektroskopie (Abgeschwächte Totalreflexions-Quanten-Fourier-Transformations-Infrarotspektroskopie) |
| Autoren | ： | Torataro Kurita (Universität Kyoto), Yu Mukai (Universität Kyoto), Ryo Okamoto (Universität Kyoto), Masaya Arahata (Universität Kyoto), Toshiyuki Tashima (Universität Kyoto), Hiroshi Ota (Shimadzu Corporation), Katsuhiko Tokuda (Shimadzu Corporation) und Shigeki Takeuchi (Universität Kyoto) |
| Journal | ： | Physical Review Applied |
- Diese auch als abgeschwächte Totalreflexion (ATR) bezeichnete Messtechnik platziert Proben in Kontakt mit einem Prisma mit hohem Brechungsindex. Das an der Grenzfläche zwischen Probe und Prisma reflektierte Licht dient zur Bestimmung der optischen Eigenschaften der Probe. Infrarotlicht durchdringt die Probe nur wenige Mikrometer, bevor es reflektiert wird. Anschließend werden die optischen Eigenschaften mikroskopischer Bereiche nahe der reflektierenden Grenzfläche zwischen Prisma und Probe analysiert. Bei leicht verformbaren oder Proben mit rauer Oberfläche kann diese Messtechnik Wellenfrontverzerrungen und Lichtstreuung während der Analyse reduzieren.
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