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SPM-9700HT Plus (Unidad principal)

El 14 de enero, Shimadzu Corporation lanzará el microscopio de sonda de barrido SPM-9700HT Plus en Japón y en el extranjero. Este modelo puede obtener información localizada de las propiedades físicas en una décima parte del tiempo que los modelos Shimadzu anteriores. Contribuirá a la evaluación e investigación de nanomateriales, como un modelo de microscopio de sonda de barrido (SPM) de propósito general que ofrece operatividad y eficiencia.

En un microscopio de sonda de barrido, se acerca una sonda con una punta de aproximadamente 10 nm a una muestra. Se realiza un barrido mientras se detecta la intensidad de las interacciones mecánicas y electromagnéticas entre la muestra y la sonda, obteniendo así información sobre la forma tridimensional de la superficie de la muestra y sus características físicas. Estos dispositivos también se conocen como microscopios de fuerza atómica (AFM). Con un microscopio electrónico, que utiliza un haz de electrones, las observaciones deben realizarse en el vacío, pero un microscopio de fuerza atómica (SPM) puede realizar observaciones y mediciones en el aire o en un líquido. Se utilizan como una herramienta esencial para la investigación en nanotecnologías y nanociencia, en aplicaciones que involucran la observación de la forma y la evaluación de las propiedades físicas de materiales de alto polímero, materiales de baterías y muestras biológicas.

Gracias a la mejora en la velocidad de procesamiento de señales y a los métodos de control optimizados, este producto obtiene imágenes de propiedades físicas a mayor velocidad. El mapeo de imágenes de los resultados de las observaciones de propiedades físicas, que con los modelos anteriores tardaba aproximadamente 6 horas, se puede obtener en 30 minutos o menos utilizando el software dedicado Nano 3D Mapping Fast (opcional). Además, el software incorpora NanoAssist, una función que facilita la obtención de imágenes estables mediante la configuración automática de las condiciones de observación. También incorpora mecanismos para optimizar la operatividad, como un mecanismo de deslizamiento del cabezal para el intercambio rápido de muestras, y CantileverMaster (opcional), que simplifica la conexión de la sonda consumible.

Con este producto, Shimadzu impulsa una revolución en la nanotecnología y la nanociencia. Al acortar los tiempos de medición y mejorar la eficiencia del trabajo, Shimadzu contribuye al avance de la investigación en áreas clave de la atención médica y el campo de la GX.

Funciones

1. Medidas en una décima parte del tiempo

Nano 3D Mapping Fast (opcional), un software dedicado que mide el módulo de elasticidad local, la capacidad de adsorción y otras propiedades físicas, y luego muestra su distribución como una imagen, proporciona observaciones de alta velocidad diez veces más rápidas que con los modelos Shimadzu anteriores. El sistema de control y la unidad de accionamiento se han mejorado, reduciendo los tiempos de trabajo a una décima parte, manteniendo el rendimiento original, lo que contribuye a una investigación y desarrollo más eficientes.

2. Establecer automáticamente la configuración de los parámetros de observación

El software cuenta con NanoAssist, una función que configura automáticamente las condiciones de observación (parámetros). Simplemente especifique el rango de observación y el software establecerá las condiciones. Incluso usuarios sin experiencia en el manejo pueden obtener imágenes estables.

3. Continuando con la usabilidad de nuestro modelo más vendido, el SPM-9700HT

Este modelo incorpora las características populares de nuestro modelo anterior, el SPM-9700HT, CantileverMaster, que permiten un intercambio de consumibles fácil y fiable, y el mecanismo de deslizamiento del cabezal, que una vez configurado, evita reajustes tras cada cambio de muestra. Por lo tanto, este modelo conserva la funcionalidad de nuestros modelos anteriores.

SPM-9700HT Plus (con unidad de control y PC)

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SPM-9700HT Plus