22 de octubre de 2025 | Noticias y avisos
Permite la obtención de imágenes por TC en una amplia gama de campos con filtros de procesamiento de imágenes y compatibilidad con componentes de gran tamaño.
Lanzamiento del sistema de tomografía computarizada de rayos X con microenfoque inspeXio 7000
Fotografía del producto: Sistema CT de rayos X con microenfoque inspeXio 7000
Shimadzu Corporation lanzó el sistema de TC de rayos X con microenfoque inspeXio 7000 el 21 de octubre. La serie inspeXio es nuestra marca de alta gama de sistemas de TC de rayos X industriales. Este modelo conserva las capacidades de imagen de TC de alta resolución y alto contraste de su predecesor, el inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus, a la vez que mejora aún más la calidad de imagen mediante nuevos modos de escaneo y aumenta la capacidad máxima de muestras inspeccionables.
Los sistemas de TC de rayos X con microenfoque utilizan rayos X para capturar imágenes del interior de los objetos y generar imágenes tridimensionales de forma no destructiva. El sistema rota una muestra de metal o plástico mientras adquiere imágenes de transmisión de rayos X y las procesa digitalmente para revelar la estructura interna del objeto. Esta capacidad no destructiva hace que estos sistemas sean ideales para la investigación, el desarrollo y el control de calidad en campos como las baterías de iones de litio, los dispositivos electrónicos y los componentes automotrices, lo que facilita procesos de fabricación avanzados.
El inspeXio 7000 combina el generador de rayos X de microfoco patentado por Shimadzu y un detector de panel plano de gran tamaño con nuestro sistema de computación ultrarrápido. Esto permite a los usuarios adquirir imágenes transversales de forma rápida y sencilla con un amplio campo de visión, alta resolución y alto contraste. Además, el sistema cuenta con un modo de escaneo que permite obtener datos de TC de alta calidad y bajo ruido, incluso en muestras de difícil penetración para los rayos X, lo que permite la observación de imágenes de alta calidad. El sistema también ofrece una mayor capacidad de manejo de muestras e incorpora un sistema de monitorización interno con una cámara gran angular, lo que facilita aún más su uso.
Shimadzu Corporation cuenta con 130 años de historia como pionera en la fabricación de sistemas de rayos X. En el futuro, seguiremos apoyando el control de calidad y la investigación y el desarrollo para fabricantes e instituciones de investigación, centrándonos en nuestro sistema de tomografía computarizada de rayos X de microenfoque inspeXio 7000 de alta gama.
Funciones
1. Amplio campo de visión, alta resolución, alto contraste
Equipado con el generador de rayos X de microfoco patentado por Shimadzu y un gran detector de panel plano de alta resolución, el sistema adquiere imágenes con un amplio campo de visión, alta resolución y alto contraste. Combinado con la tecnología informática de alta velocidad de Shimadzu, los usuarios pueden observar estructuras internas de forma rápida y sencilla.
2. Imágenes transversales de alta calidad con ruido reducido
El sistema está equipado con un modo de escaneo estándar que permite la adquisición de datos de TC con bajo ruido incluso en muestras de difícil penetración por rayos X, como las baterías de iones de litio de gran tamaño. Al combinarse con los filtros de procesamiento de imágenes del visor de imágenes dedicado, el sistema proporciona a los usuarios imágenes transversales de alta calidad adaptadas a sus necesidades específicas.
3. Compatibilidad con una amplia gama de muestras
El sistema ahora admite muestras 1,6 veces más pesadas que el modelo anterior, lo que permite la inspección de componentes más grandes. Un sistema de monitorización interno simplifica aún más el posicionamiento de objetos de todos los tamaños.
Para más detalles, visite
inspeXio 7000