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SPM-9700HT Plus (unité principale)

Le 14 janvier, Shimadzu Corporation lancera le microscope à sonde à balayage SPM-9700HT Plus au Japon et à l'international. Ce modèle permet d'obtenir des informations localisées sur les propriétés physiques dix fois moins rapidement que les modèles Shimadzu précédents. Il contribuera aux évaluations et à la recherche sur les nanomatériaux, en tant que modèle polyvalent de microscope à sonde à balayage (SPM), alliant opérabilité et efficacité.

Dans un microscope à sonde à balayage, une sonde dont la pointe mesure environ 10 nm est approchée d'un échantillon. Un balayage est effectué tout en détectant l'intensité des interactions mécaniques et électromagnétiques entre l'échantillon et la sonde, ce qui permet d'obtenir des informations sur la forme tridimensionnelle de la surface de l'échantillon et ses caractéristiques physiques. Ces dispositifs sont également appelés microscopes à force atomique (AFM). Avec un microscope électronique, qui utilise un faisceau d'électrons, les observations doivent être effectuées sous vide, tandis qu'un SPM peut effectuer des observations et des mesures dans l'air ou dans un liquide. Ils sont un outil essentiel pour la recherche en nanotechnologies et en nanosciences, dans des applications impliquant l'observation de la forme et l'évaluation des propriétés physiques des matériaux à haute teneur en polymères, des matériaux de batteries et des échantillons biologiques.

Grâce à des vitesses de traitement du signal améliorées et à des méthodes de contrôle optimisées, ce produit obtient des images de propriétés physiques à des vitesses plus élevées. La cartographie des résultats d'observation des propriétés physiques, qui prenait environ 6 heures avec les modèles précédents, peut être obtenue en 30 minutes maximum grâce au logiciel dédié Nano 3D Mapping Fast (disponible en option). De plus, ce logiciel est équipé de NanoAssist, une fonction qui assure une imagerie stable en définissant automatiquement les conditions d'observation. Il est également équipé de mécanismes améliorant l'opérabilité, notamment un mécanisme de tête coulissante pour un échange rapide des échantillons, et du CantileverMaster (disponible en option), qui simplifie la fixation de la sonde consommable.

Grâce à ce produit, Shimadzu accompagne une révolution dans les nanotechnologies et les nanosciences. En réduisant les temps de mesure et en améliorant l'efficacité du travail, Shimadzu contribue à l'avancement de la recherche dans les domaines clés de la santé et de la GX.

Caractéristiques

1. Mesures en un dixième du temps

Nano 3D Mapping Fast (disponible en option), un logiciel dédié qui mesure le module d'élasticité local, la capacité d'adsorption et d'autres propriétés physiques, puis affiche leur distribution sous forme d'image, permet des observations à grande vitesse dix fois plus rapides qu'avec les modèles Shimadzu précédents. Le système de contrôle et l'unité d'entraînement ont été améliorés, réduisant les temps de travail d'un dixième tout en conservant les performances actuelles, contribuant ainsi à une recherche et un développement plus efficaces.

2. Définir automatiquement les paramètres d'observation

Le logiciel est équipé de NanoAssist, une fonction qui définit automatiquement les conditions d'observation (paramètres). Il suffit de spécifier la plage d'observation et le logiciel définit les conditions. Même les utilisateurs peu familiarisés avec ce fonctionnement peuvent obtenir des images stables.

3. Poursuivons la convivialité de notre modèle le plus vendu, le SPM-9700HT

Ce modèle est équipé des fonctionnalités populaires de notre modèle précédent, le SPM-9700HT, du CantileverMaster, qui permet un remplacement simple et fiable des consommables, et du mécanisme de coulissement de la tête, qui, une fois réglé, rend inutiles les réglages après chaque changement d'échantillon. Ce modèle conserve ainsi la convivialité de nos modèles précédents.

SPM-9700HT Plus (avec unité de contrôle et PC)

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SPM-9700HT Plus