22 de outubro de 2025 | Notícias e Avisos:
Permite imagens de TC em uma ampla gama de campos com filtros de processamento de imagem e suporte para componentes grandes
Lançamento do sistema de tomografia computadorizada de raios X inspeXio 7000 Microfocus

Fotografia do produto: Sistema de tomografia computadorizada de raios X com microfoco inspeXio 7000
Shimadzu Corporation lançou o sistema de tomografia computadorizada de raios X microfocus inspeXio 7000 em 21 de outubro. A série inspeXio é nossa marca de ponta em sistemas industriais de tomografia computadorizada de raios X. Este modelo mantém os recursos de imagem de TC de alta resolução e alto contraste de seu antecessor, o inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus, ao mesmo tempo em que aprimora ainda mais a qualidade da imagem por meio de novos modos de varredura e aumenta a capacidade máxima de amostra que pode ser inspecionada.
Os sistemas de tomografia computadorizada de raios X de microfoco utilizam raios X para capturar imagens do interior de objetos e gerar imagens tridimensionais de forma não destrutiva. O sistema gira uma amostra de metal ou plástico enquanto adquire imagens de transmissão de raios X e, em seguida, as processa digitalmente para revelar a estrutura interna do objeto. Essa capacidade não destrutiva torna esses sistemas ideais para pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade em áreas como baterias de íons de lítio, dispositivos eletrônicos e componentes automotivos, apoiando processos avançados de fabricação.
O inspeXio 7000 combina o gerador de raios X microfocal proprietário da Shimadzu e um grande detector de painel plano com nosso próprio sistema de computação ultrarrápido. Isso permite aos usuários adquirir imagens transversais de forma rápida e fácil com amplo campo de visão, alta resolução e alto contraste. Além disso, o sistema possui um modo de varredura que permite a aquisição de dados de TC de alta qualidade e baixo ruído, mesmo para amostras de difícil penetração por raios X, permitindo a observação de imagens de alta qualidade. O sistema também oferece capacidade aprimorada de manuseio de amostras e incorpora um sistema de monitoramento interno com uma câmera grande angular, aumentando ainda mais a facilidade de uso.
Shimadzu Corporation tem 130 anos de história como pioneira na fabricação de sistemas de raios X. No futuro, continuaremos a apoiar o controle de qualidade e a pesquisa e desenvolvimento para fabricantes e instituições de pesquisa, com foco em nosso sistema de tomografia computadorizada de raios X de microfoco inspeXio 7000 de última geração.
Características
1. Grande campo de visão, alta resolução, alto contraste
Equipado com o gerador de raios X microfocal patenteado da Shimadzu e um detector de painel plano de alta resolução, o sistema adquire imagens com amplo campo de visão, alta resolução e alto contraste. Combinado com a tecnologia de computação de alta velocidade da Shimadzu, os usuários podem observar estruturas internas de forma rápida e fácil.
2. Imagens transversais de alta qualidade com ruído reduzido
O sistema é equipado com um modo de varredura padrão que permite a aquisição de dados de TC com baixo ruído, mesmo para amostras de difícil penetração por raios X, como grandes baterias de íons de lítio. Quando usado em combinação com filtros de processamento de imagem no visualizador de imagens dedicado, o sistema pode fornecer aos usuários imagens transversais de alta qualidade, adaptadas às suas necessidades específicas.
3. Suporte para uma ampla variedade de amostras
O sistema agora acomoda amostras 1,6 vez mais pesadas que o modelo anterior, permitindo a inspeção de componentes maiores. Um sistema de monitoramento interno simplifica ainda mais o posicionamento de objetos de todos os tamanhos.
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inspeXio 7000


