SPM-8100FM
- Permite la medición y visualización de la distribución de la fuerza electrostática en electrolitos, lo cual había sido imposible con los microscopios convencionales de sonda de barrido. - Se puede utilizar en los campos de protección contra la corrosión y baterías, y se espera que sea útil en el desarrollo de nueva energía, comenzando con la tecnología de vehículos eléctricos.
Los sistemas que utilizan el potencial eléctrico de materiales y sustancias, como baterías, chips de IC y dispositivos de memoria, favorecen la vida cotidiana. El método del microscopio de fuerza de sonda Kelvin (Kelvin probe force microscope, KPFM), que mide el potencial de la superficie de la muestra, se utiliza ampliamente en microscopios de sonda de barrido (SPM/AFM), pero no puede utilizarse en soluciones electrolíticas en las que se producen reacciones electroquímicas. Como se informa aquí, los autores establecieron un nuevo método de medición EFM-fase-ZXY aplicando el microscopio de fuerza electrostática (EFM) y visualizaron con éxito la distribución de la fuerza electrostática de las muestras en electrolitos.
28 de febrero de 2021 GMT
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