MIV-X - Características
MAIVIS Detector ultrasónico de defectos ópticos
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Técnica patentada para la adquisición de imágenes con luz de Shimadzu
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Diferencia frente a la detección ultrasónica de fallas
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Función de eliminación de ruido que simplifica la identificación de defectos
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Las funciones de visualización y marcado de dimensiones simplifican la identificación de la posición y el tamaño del defecto
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Conjunto de zoom óptico (opcionalmente disponible) para detectar defectos más pequeños
Técnica patentada para la adquisición de imágenes con luz de Shimadzu
Con la tecnología ultrasónica de detección de fallas ópticas, la muestra es incentivada el desplazamiento de la superficie es detectado ópticamente,
y se observa la propagación de la onda ultrasónica en la superficie.
- La muestra se carga mediante vibraciones ultrasónicas continuas.
- El desplazamiento microscópico fuera de plano de la superficie debido a la propagación de la onda ultrasónica se visualiza ópticamente utilizando irradiación láser y una cámara*.
- Los defectos se detectan observando alteraciones en la propagación de la onda ultrasónica.
*La tecnología de diagnóstico por imágenes de luz patentada de Shimadzu combina la interferometría de cizallamiento de moteado mediante vibración ultrasónica con una técnica estroboscópica.
(Con patente en Japón, China y los EE. UU.)
Diferencia frente a la detección ultrasónica de fallas
El detector ultrasónico de fallas ópticas MIV-X ayuda en regiones donde las pruebas ultrasónicas (UT) son difíciles. ¡Deje la inspección no destructiva de las superficies y cerca de las superficies a MIV-X!
¡Estas son las ventajas!
- Inspección por lotes de una amplia área dentro del campo de visión de la cámara
- Buena para inspeccionar superficies y cerca de superficies
- No hay necesidad de preocuparse por las diferencias en la impedancia acústica, incluso para materiales diferentes
Función de eliminación de ruido que simplifica la identificación de defectos
Función de eliminación de ruido que simplifica la identificación de defectos
Las funciones de visualización y marcado de dimensiones simplifican la identificación de la posición y el tamaño del defecto
Las funciones de visualización y marcado de dimensiones simplifican la identificación de la posición y el tamaño del defecto
Conjunto de zoom óptico (opcionalmente disponible) para detectar defectos más pequeños
Conjunto de zoom óptico (opcionalmente disponible) para detectar defectos más pequeños
Disminuye el tamaño mínimo de detección en un factor de aproximadamente dos (estándar MIV-X: de aproximadamente 1 mm de diám. a 0.5 mm de diám.)
También es posible ajustar el eje óptico del láser, lo que mejora la uniformidad de la irradiación
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