El tiempo requerido para el mapeo físico de propiedades se ha reducido significativamente en comparación con la máquina anterior.
SPM-9700HT Plus
Microscopio de sonda de barrido/Microscopio de fuerza atómica
El término “microscopio de sonda de barrido” (SPM) es genérico para los microscopios que escanean las superficies de las muestras con una sonda extremadamente nítida para observar su imagen tridimensional o sus propiedades locales con gran aumento. El SPM-9700HT Plus da un paso más allá en las observaciones de alto rendimiento.
SPM-9700HT, Nano 3D Mapping y el logotipo de Analytical Intelligence son marcas comerciales de Shimadzu Corporation o sus empresas afiliadas en Japón o en otros países.
Este instrumento no está disponible en regiones europeas y también puede no estar disponible en otros países determinados. Comuníquese con su representante local de Shimadzu para obtener información sobre la disponibilidad.
Características
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Solo es necesario configurar el rango de observación. Otras condiciones de observación se configuran automáticamente. -
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Confirme las imágenes ampliadas en una variedad de direcciones fácilmente con el ratón e incluso analice perfiles de secciones transversales en 3D. -
Una amplia selección de modos de medición y una excelente capacidad de expansión ayudan a garantizar mediciones confiables, independientemente de las propiedades que... -
Videos
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SPM-9700HT Plus Mecanismo de deslizamiento de la cabeza
Reemplazo de muestras sin detener la irradiación láser, estabilidad excepcional de la irradiación y tiempos de análisis significativamente más cortos.
*Los procedimientos operativos son los mismos para el SPM-9700HT Plus. -
SPM-9700HT Plus Plantilla de montaje en voladizo
Esta plantilla garantiza un montaje fácil y seguro del voladizo.
*Los procedimientos operativos son los mismos para el SPM-9700HT Plus. -
SPM-9700HT Plus Escáner de alto rendimiento
Gracias al escáner HT desarrollado recientemente que logra una respuesta de alta velocidad y optimiza el software y el diseño del sistema de control, la adquisición de los datos de las imágenes ahora está disponible a una velocidad inferior a 5 veces o más (nuestra relación). El escáner se puede reemplazar fácilmente para poder usar los escáneres existentes.
*Los procedimientos operativos son los mismos para el SPM-9700HT Plus.
Descargas
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Aplicaciones
| Documentos | Fecha Fecha de creación |
|---|---|
2022-01-06 | |
2021-01-22 | |
2021-01-22 |
Noticias/eventos
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Se lanzó el microscopio de sonda de barrido SPM-9700HT Plus
Presentamos el SPM-9700 HT Plus, el último microscopio de sonda de barrido de alta resolución de Shimadzu diseñado para satisfacer las necesidades de análisis de superficies más exigentes. Este instrumento de avanzada ofrece precisión y eficiencia inigualables, con escaneo de alta velocidad, estabilidad mejorada, interfaz fácil de usar y aplicaciones versátiles.
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Explore la recién establecida Plaza de Soluciones SPM/AFM (conocido anteriormente como sala de datos SPM).
Descubra imágenes de observaciones y noticias de aplicaciones en varios campos utilizando microscopía de sonda de barrido/microscopía de fuerza atómica (SPM/AFM). Además, puede acceder a una lista de publicaciones que destacan nuestros datos de SPM/AFM.
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Nanofibras de celulosa
Dado que las nanofibras de celulosa (CNF) ofrecen características físicas atractivas, como peso liviano, resistencia y dureza, no solo permiten materiales con funcionalidad avanzada, sino que se espera que se utilicen como material de refuerzo que pueda reducir el peso de los materiales compuestos.
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Joyería, gema
Se utilizan varios instrumentos para la valoración de piedras preciosas. Estos instrumentos no se limitan a herramientas generales de valoración de gemas, como el microscopio estereoscópico, sino que también incluyen varios instrumentos analíticos.
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Shimadzu ha lanzado el espectrómetro de fluorescencia de rayos X por energía dispersa EDX-7200
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Shimadzu presenta el microscopio de sonda de barrido SPM-Nanoa
Proporciona operabilidad de alto nivel y procesamiento de alta velocidad, con ajustes ópticos automáticos y ajustes de condiciones de observación
